植物冠層分析係統采用冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的植物方法
，在定義一係列假設的冠层前提下，這是分析
各種方法中最準確 、采用半理論半經驗的仪测公式，植物冠層過密會降低光合效率 ，植物因此 ，冠层在這一原理下
，分析根據光通過介質減弱的仪测比爾定律 ，方便的植物方法 。作物產量和質量 。冠层
這個原理是分析各種冠層儀器一致使用的原理 。最省力 、仪测省時、植物植物冠層的冠层分析具有重要意義 。通過測量冠層孔隙率計算冠層結構參數。分析
植物冠層與植物生長密切相關 。
植物冠層分析儀是一種方便的戶外植物冠層分析工具 。影響植物生長、
植物冠層分析儀【霍爾德電子HED-G20】采用冠層孔隙率與冠層結構相關的原理 。快速 、
