SunScan植物冠層分析儀

可以在大多數光照條件下進行測量工作（但是物冠更好是在接近中午的時候）。

測定LAI的层分光學方案介紹：雖然光學法測定的葉麵積指數通常需要與直接法測定的葉麵積指數進行比較 ，

析仪

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析仪 SunScan植物冠層分析儀

SunScan植物冠層分析儀是物冠一款簡便的測量和分析冠層入射和透射光合有效輻射（PAR）的係統，提供了關於影響田間作物生長的层分限製因素的有價值的信息 ，如葉麵積指數（LAI）。析仪華益瑞可提供多達6種測定葉麵積指數的物冠光學方案 ，但是层分光學法由於其方便性和有效性而經常被用於估測植被的葉麵積指數 ，SunScan植物冠層分析儀不需要等待特殊的析仪天氣條件進行使用 ，今天介紹第一種  ：

一、物冠